一種顯示模組中各向異性導電膜粒子的檢測方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202110011971.6 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112767323A | 公開（公告）日 | 2021-05-07 |
| 申請公布號 | CN112767323A | 申請公布日 | 2021-05-07 |
| 分類號 | G01N15/00(2006.01)I;G06T7/11(2017.01)I;G06T7/00(2017.01)I;G06T7/136(2017.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 李剛 | 申請（專利權）人 | 華興源創(chuàng)（成都）科技有限公司 |
| 代理機構 | 北京正理專利代理有限公司 | 代理人 | 李遠思 |
| 地址 | 610000四川省成都市高新區(qū)天勤東街58號5棟1-2層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明的一個實施例公開了一種顯示模組中各向異性導電膜(ACF)粒子的檢測方法，所述方法包括：S101：接收包含ACF粒子的圖像；S103：獲取所述圖像中的感興趣區(qū)域的圖像數(shù)據(jù)；S105：利用濾波器模型對所述圖像數(shù)據(jù)進行相關性計算，得到ACF粒子響應圖像；S107：對所述響應圖像進行閾值分割，在圖像上標記出所述ACF粒子。?? |
