STED超分辨顯微技術(shù)中損耗光斑的高質(zhì)量重建方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610813505.9 申請日 -
公開（公告）號 CN106291966B 公開（公告）日 2018-07-17
申請公布號 CN106291966B 申請公布日 2018-07-17
分類號 G02B27/58 分類 光學(xué);
發(fā)明人 龔薇;斯科;吳晨雪 申請（專利權(quán)）人 浙江大學(xué)控股集團(tuán)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 代理人 林超
地址 310000 浙江省杭州市西湖區(qū)智匯眾創(chuàng)中心1號樓801-804室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種STED超分辨顯微技術(shù)中損耗光斑的高質(zhì)量重建方法。不加載樣品光束經(jīng)過均一相位空間光調(diào)制后被物鏡聚焦，在焦平面得理想損耗光斑；加載樣品光束經(jīng)過均一相位空間光調(diào)制后被物鏡聚焦，在位于樣品內(nèi)部的焦平面得畸變損耗光斑；將空間光調(diào)制器的像素點(diǎn)分區(qū)，各分區(qū)加載不同的相位值，得到一系列需校正損耗光斑，接著與理想損耗光斑進(jìn)行互相關(guān)計(jì)算和處理，得到各分區(qū)的相位加載最佳值；各分區(qū)經(jīng)過多次迭代處理后完成樣品內(nèi)部損耗光斑的高質(zhì)量重建。本發(fā)明能重建有損耗空心光斑，能在大深度下得到完整而良好的損耗光斑，擴(kuò)展了受激輻射淬滅顯微技術(shù)的應(yīng)用范圍，提高了系統(tǒng)成像深度，提升了系統(tǒng)分辨率與信噪比并優(yōu)化成像質(zhì)量。