光子晶體顯微鏡和細(xì)胞力學(xué)測(cè)量方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010931803.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN111812095B | 公開（公告）日 | 2020-10-23 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111812095B | 申請(qǐng)公布日 | 2020-10-23 |
| 分類號(hào) | G01N21/84(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 顧忠澤;李奇維;陳早早 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 江蘇艾瑋得生物科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京中知法苑知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 李明;趙吉陽 |
| 地址 | 215000 江蘇省蘇州市高新區(qū)富春江路188號(hào)1號(hào)樓7層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本公開實(shí)施例提供一種光子晶體顯微鏡和細(xì)胞力學(xué)測(cè)量方法。光子晶體顯微鏡包括光子晶體基底、載物臺(tái)、探測(cè)光源和成像組件，光子晶體基底在載物臺(tái)上方，探測(cè)光源和成像組件依次位于載物臺(tái)背離光子晶體基底的一側(cè)，光子晶體基底用于培養(yǎng)待測(cè)細(xì)胞，并且，在待測(cè)細(xì)胞在光子晶體基底上生長(zhǎng)時(shí)，光子晶體基底能夠產(chǎn)生形變；其中，探測(cè)光源，用于向光子晶體基底發(fā)出探測(cè)光；光子晶體基底反射探測(cè)光至成像組件；成像組件，接收來自光子晶體基底的反射光進(jìn)行成像，以利用成像圖形得到待測(cè)細(xì)胞與光子晶體基底之間的作用力信息。在保證亞細(xì)胞測(cè)量精度的前提下實(shí)現(xiàn)了通量的大幅度提高，簡(jiǎn)化了算法的復(fù)雜度、提高了時(shí)間分辨率、降低裝置成本與實(shí)驗(yàn)的復(fù)雜度。?? |
