一種集成IC外觀缺陷檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120772050.7 申請日 -
公開（公告）號 CN214555452U 公開（公告）日 2021-11-02
申請公布號 CN214555452U 申請公布日 2021-11-02
分類號 B07C5/34（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 胡冬 申請（專利權(quán)）人 四川明泰微電子有限公司
代理機構(gòu) 成都誠中致達專利代理有限公司 代理人 曹宇杰
地址 641100四川省內(nèi)江市東興區(qū)勝利鎮(zhèn)新立五隊
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種集成IC外觀缺陷檢測裝置，包括設(shè)于工作臺的檢測機構(gòu)，檢測機構(gòu)包括：定位機構(gòu)，設(shè)于工作臺；檢測組件，有多個，線性陣列于檢測架上，檢測架設(shè)于工作臺上，位于軌道槽一側(cè)，檢測組件包括通過轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動設(shè)于檢測架的轉(zhuǎn)桿以及與轉(zhuǎn)桿上端連接的第一彈簧，第一彈簧另一端連接在檢測架上，轉(zhuǎn)桿下端轉(zhuǎn)動連接有缺損檢測輪，轉(zhuǎn)桿上部設(shè)有透光孔；傳感器，有一對，匹配使用，設(shè)于檢測架上，位于檢測架的兩端，檢測組件位于傳感器之間，其中一個傳感器用于發(fā)射信號，另一個傳感器用于接收信號。采用機械式檢測方式，通過缺損檢測輪是否被擠偏，以使得傳感器信號正常傳輸或被遮擋，從而判定出缺陷產(chǎn)品，結(jié)構(gòu)簡單，制造成本低。