一種測(cè)試PIM用的治具
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201922433221.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN212483624U | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-02-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212483624U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-02-05 |
| 分類號(hào) | G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 郭珍云;周大偉 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 深圳市博敏電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 | 代理人 | 陸薇薇 |
| 地址 | 518103廣東省深圳市寶安區(qū)福永街道白石廈龍王廟工業(yè)區(qū)21棟 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種測(cè)試PIM用的治具，包括有活動(dòng)架，所述活動(dòng)架的上端固定安裝有電動(dòng)推桿，所述電動(dòng)推桿的活塞桿貫穿活動(dòng)架的上端，且所述電動(dòng)推桿的活塞桿的一端固定連接有防護(hù)盤(pán)，所述活動(dòng)架的內(nèi)部開(kāi)設(shè)有螺紋孔，所述螺紋孔的內(nèi)部螺紋連接有螺桿，所述螺桿的一端與測(cè)試座的上端相連接，所述測(cè)試座的內(nèi)部開(kāi)設(shè)有測(cè)試腔，所述測(cè)試座的一側(cè)設(shè)置有第一射頻同軸連接器，且所述測(cè)試座的一側(cè)還設(shè)置有第二射頻同軸連接器。本實(shí)用新型通過(guò)使用測(cè)試座上可以升降移動(dòng)的防護(hù)盤(pán)，可以有效的保證測(cè)試樣品的安全性，同時(shí)使用螺桿升降活動(dòng)架，可以使得治具可以適應(yīng)不同高度大小的測(cè)試樣品，提高了使用時(shí)的實(shí)用性。?? |
