一種實現(xiàn)圖像自校正的X射線圖像探測器及其方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810850624.0 申請日 -
公開（公告）號 CN108918559B 公開（公告）日 2021-08-17
申請公布號 CN108918559B 申請公布日 2021-08-17
分類號 G01N23/04;G01T1/202 分類 測量；測試;
發(fā)明人 崔志立;魏青 申請（專利權(quán)）人 北京納米維景科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京汲智翼成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳曦;賈興昌
地址 100094 北京市海淀區(qū)北清路68號院用友產(chǎn)業(yè)園西區(qū)1號樓一層1-06
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種實現(xiàn)圖像自校正的X射線圖像探測器及其方法。該探測器包括第一檢測裝置、第二檢測裝置及信號處理裝置；第一檢測裝置與第二檢測裝置用于獲取不同管電壓產(chǎn)生的X射線穿過預(yù)定厚度材料的X射線強(qiáng)度；信號處理裝置根據(jù)第一檢測裝置與第二檢測裝置獲取的X射線強(qiáng)度的比值，得到X射線管的管電壓，調(diào)用暗場模板圖及與管電壓對應(yīng)的增益校正模板對所采集的初始數(shù)字圖像進(jìn)行校正。本X射線圖像探測器不僅分擔(dān)了現(xiàn)有計算機(jī)工作站的圖像處理工作，還能夠?qū)Ξ?dāng)前管電壓下產(chǎn)生的數(shù)字圖像進(jìn)行校正，大大提高了輸出圖像的質(zhì)量。