一種用于微波等離子體炬發(fā)射光譜的固體進樣分析系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710535341.2 申請日 -
公開（公告）號 CN107271428A 公開（公告）日 2017-10-20
申請公布號 CN107271428A 申請公布日 2017-10-20
分類號 G01N21/71(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張勇;王世功;趙珍陽;史磊;田中朝;許玉興;趙玉新 申請（專利權）人 山東東儀光電儀器有限公司
代理機構 北京中索知識產權代理有限公司 代理人 山東東儀光電儀器有限公司
地址 264670 山東省煙臺市高新技術產業(yè)園區(qū)經(jīng)七路11號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明適用于固體樣品元素含量分析技術領域，提供了一種用于微波等離子體炬發(fā)射光譜的固體進樣分析系統(tǒng)，包括激光器，用于輸出預定波長的激光；光學擴束裝置，用于將激光擴散處理；光路調節(jié)裝置，用于將擴散處理后的激光光束按預定角度反射和/或將可見光透射處理；光學聚焦裝置，用于將激光光束聚焦處理后傳送到樣品室；樣品室，用于放置樣品，并接收聚焦后的激光對樣品進行燒蝕處理；成像處理裝置，用于將所述光路調節(jié)裝置透射處理后的可見光成像處理。本發(fā)明具有無需樣品前處理，固體樣品直接分析，分析速度快，分析靈敏度高等特點，可用于冶金、地質、硅酸鹽等工業(yè)領域的固體或粉末樣品快速元素含量分析。