量測質量的自適應監(jiān)測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200810039840.3 申請日 -
公開（公告）號 CN101620250B 公開（公告）日 2013-04-03
申請公布號 CN101620250B 申請公布日 2013-04-03
分類號 G06F17/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 李昌;楊曉玲;章良棟;張衛(wèi)紅 申請（專利權）人 云聯(lián)電力科技股份有限公司
代理機構 上海申匯專利代理有限公司 代理人 上海申瑞繼保電氣有限公司;云聯(lián)電力科技股份有限公司
地址 200233 上海市徐匯區(qū)桂平路470號12號樓5樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種量測質量的自適應監(jiān)測方法，涉及電力系統(tǒng)數(shù)據處理技術領域，所解決的是的對量測的質量進行監(jiān)測的技術問題。該方法的特征在于，具體步驟如下：1)對每個量測按所屬RTU通道自動分區(qū)；2)對每個量測采用多種監(jiān)測方式在指定時間段中進行數(shù)據質量監(jiān)測，從而得到一個低質量量測矩陣；3)對低質量量測矩陣進行統(tǒng)計分析，計算出各分區(qū)量測的低質量比例，并根據權值分配原則自動修改低質量RTU通道的權值；4)重復步驟2)-3)直至排除所有的低質量RTU，找出真正的低質量量測點；5)根據低質量量測點的分區(qū)及質量值，從數(shù)值上區(qū)分其原因，從而得出低質量量測來源的分析報告。利用本發(fā)明提供的方法，能自動找出低質量量測來源。