透明物品厚度測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201821430971.X 申請日 -
公開（公告）號 CN208751497U 公開（公告）日 2019-04-16
申請公布號 CN208751497U 申請公布日 2019-04-16
分類號 G01B11/06（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 向五峰 申請（專利權(quán)）人 深圳市貝諾光科科技有限公司
代理機構(gòu) 北京中濟緯天專利代理有限公司 代理人 深圳市貝諾光科科技有限公司
地址 518102 廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)西城工業(yè)區(qū)茂成大廈6樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及非接觸式檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種透明物品厚度測量裝置，包括底座、光學模組以及顯示單元，所述底座用于托撐被測物品，光學模組設(shè)置在被測物品的下方，光學模組射出的光線經(jīng)過被測物品的兩個面反射后的光線被光學模組接收，光學模組根據(jù)接收到的光線計算出被測物品厚度并輸出至顯示單元顯示。通過設(shè)置光學模組，根據(jù)被測物品兩個表面所反射光線的差別可以方便的計算出被測物品的厚度，這種檢測無需接觸被測物品，不會污染或破壞被測物品，相較于光譜離焦的方案，本裝置成本大大降低，使用時，只需要將被測物品放置在底座上即可在顯示單元上顯示出其厚度，檢測非常方便。