平曲兩用透過(guò)率檢測(cè)儀

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201420578073.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN204085848U 公開(kāi)（公告）日 2015-01-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN204085848U 申請(qǐng)公布日 2015-01-07
分類號(hào) G01M11/02(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 向五峰 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市貝諾光科科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 443000 湖北省宜昌市西陵區(qū)珠海路10號(hào)1棟2單元302室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 公開(kāi)一種平曲兩用透過(guò)率檢測(cè)儀，包含機(jī)架、光源、數(shù)據(jù)處理裝置、入射光路裝置和半反半透光路裝置；所述半反半透光路裝置安裝在機(jī)架頂部與入射光路裝置連接；安裝在機(jī)臺(tái)內(nèi)的光學(xué)積分球裝置與安裝在機(jī)臺(tái)內(nèi)光譜檢測(cè)器連接，光譜檢測(cè)器與數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器連接；所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器上的USB接口與外圍的數(shù)據(jù)處理裝置連接；該方案不僅可測(cè)試平面、球面玻璃和其它透光材質(zhì)的透過(guò)率，還可通過(guò)設(shè)置的相機(jī)接口，借助相機(jī)成像來(lái)協(xié)助對(duì)測(cè)試點(diǎn)的定位操作，解決了現(xiàn)有市場(chǎng)上沒(méi)有可測(cè)試球面物件透過(guò)率的光譜檢測(cè)供應(yīng)，以及現(xiàn)有技術(shù)的光譜檢測(cè)儀，在對(duì)微小測(cè)試點(diǎn)定位缺乏設(shè)備協(xié)助，定位操作速度慢、準(zhǔn)確度不高的問(wèn)題。