具有內(nèi)建自測試邏輯的測試裝置及方法
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201911241938.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN112925682A | 公開(公告)日 | 2021-06-08 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112925682A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-06-08 |
| 分類號(hào) | G06F11/22;G06F13/42 | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 王丹;范然然;朱肖;常仲元;劉新 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 瀾起科技股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海一平知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 徐迅;成春榮 |
| 地址 | 200233 上海市徐匯區(qū)宜山路900號(hào)1幢A6 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請(qǐng)公開了一種具有內(nèi)建自測試邏輯的測試裝置及測試方法、通信設(shè)備,該裝置包括設(shè)置于物理層和介質(zhì)訪問控制層之間的至少一個(gè)生成器和至少一個(gè)校驗(yàn)器,所述至少一個(gè)生成器被配置為產(chǎn)生協(xié)議模式以在所述物理層和所述介質(zhì)訪問控制層之間形成數(shù)據(jù)通路并在所述數(shù)據(jù)通路中生成不同的偽隨機(jī)位序列模式;所述至少一個(gè)校驗(yàn)器被配置依據(jù)所述偽隨機(jī)位序列模式測試所述物理層和/或所述介質(zhì)訪問控制層中的數(shù)據(jù)流以定位故障位置。 |





