一種雙面多目標等間距陣列視覺檢測方法及檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110139569.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112964723A 公開（公告）日 2021-06-15
申請公布號 CN112964723A 申請公布日 2021-06-15
分類號 G01N21/88;G01N21/93 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周飛 申請（專利權(quán)）人 蘇州百邁半導體技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京風雅頌專利代理有限公司 代理人 李弘
地址 215123 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)若水路388號蘇州納米技術(shù)國家大學科技園E0904室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本說明書一個或多個實施例提供一種雙面多目標等間距陣列視覺檢測方法及檢測系統(tǒng)。所述方法包括：搬運載臺將待檢測產(chǎn)品移動至多個圖像采集裝置的圖像采集位置；多個所述圖像采集裝置分別采集所述待檢測產(chǎn)品不同位置的待檢測圖像；圖像處理裝置基于所述待檢測產(chǎn)品不同位置的所述待檢測圖像對所述待檢測產(chǎn)品進行缺陷檢測以獲得所述待檢測產(chǎn)品不同位置的缺陷過程檢測數(shù)據(jù)以及缺陷結(jié)果檢測數(shù)據(jù)，并基于從屬于同一所述待檢測產(chǎn)品的所述缺陷過程檢測數(shù)據(jù)及所述缺陷結(jié)果檢測數(shù)據(jù)生成所述待檢測產(chǎn)品的完整檢測數(shù)據(jù)發(fā)送給上位機；所述上位機展示所述完整檢測數(shù)據(jù)。本說明書實施例所述檢測方法及系統(tǒng)可以實現(xiàn)引線框架的檢測。