一種多目標(biāo)隨機(jī)陣列飛拍視覺檢測方法及檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110138089.8 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN112964721A 公開（公告）日 2021-06-15
申請公布號(hào) CN112964721A 申請公布日 2021-06-15
分類號(hào) G01N21/88（2006.01）I;G01N21/956（2006.01）I;G01N21/93（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周飛 申請（專利權(quán)）人 蘇州百邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司 代理人 李弘
地址 215123江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)若水路388號(hào)蘇州納米技術(shù)國家大學(xué)科技園E0904室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本說明書一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例提供一種多目標(biāo)隨機(jī)陣列飛拍視覺檢測方法及檢測系統(tǒng)。上述檢測方法包括：產(chǎn)品承載裝置將待檢測產(chǎn)品移動(dòng)至圖像采集裝置的圖像采集位置；圖像采集裝置對所述待檢測產(chǎn)品采用點(diǎn)位啟停方式進(jìn)行連續(xù)飛拍，獲得所述待檢測產(chǎn)品的多幀有序的待檢測圖像并傳輸給圖像采集處理器；其中，每幀所述待檢測圖像包括所述待檢測產(chǎn)品的至少部分圖像；圖像處理裝置采用并行的處理方式對所述有序待檢測圖像進(jìn)行缺陷檢測，獲得所述待檢測產(chǎn)品的部分缺陷檢測結(jié)果并發(fā)送給上位機(jī)；所述上位機(jī)對多個(gè)所述部分缺陷檢測結(jié)果進(jìn)行處理，獲得所述待檢測產(chǎn)品的完整缺陷檢測結(jié)果并展示。本說明書實(shí)施例所述檢測方法及檢測系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)金線模組的缺陷檢測。