一種多目標(biāo)多區(qū)域視覺檢測方法及檢測系統(tǒng)
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202110139585.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN112964724A | 公開(公告)日 | 2021-06-15 |
| 申請公布號 | CN112964724A | 申請公布日 | 2021-06-15 |
| 分類號 | G01N21/88;G01N21/93;G01N21/95 | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 周飛 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州百邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司 | 代理人 | 李弘 |
| 地址 | 215123 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)若水路388號蘇州納米技術(shù)國家大學(xué)科技園E0904室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本說明書一個或多個實施例提供一種多目標(biāo)多區(qū)域視覺檢測方法及系統(tǒng)。所述方法包括:產(chǎn)品承載裝置將待檢測產(chǎn)品移動至圖像采集裝置的圖像采集位置;圖像采集裝置對待檢測產(chǎn)品進行掃描成像,獲得待檢測產(chǎn)品的待檢測圖像并發(fā)送給圖像處理裝置;圖像處理裝置基于待檢測圖像對多個待檢測產(chǎn)品的多個區(qū)域進行提取,獲得多個待檢測產(chǎn)品的多個不同類型的待檢測區(qū)域,分別基于多個待檢測產(chǎn)品的多個不同類型的待檢測區(qū)域進行缺陷檢測以獲得各個待檢測區(qū)域的部分缺陷檢測結(jié)果,基于部分缺陷檢測結(jié)果生成完整缺陷檢測結(jié)果并發(fā)送給上位機;上位機對完整缺陷檢測結(jié)果進行展示。本說明實施例所述方法及系統(tǒng)可以實現(xiàn)具有多檢測目標(biāo)產(chǎn)品的缺陷檢測。 |





