用于光子晶體光纖的測試平臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010042143.4 申請日 -
公開（公告）號 CN111256951B 公開（公告）日 2022-01-21
申請公布號 CN111256951B 申請公布日 2022-01-21
分類號 G01M11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉永;杜明 申請（專利權(quán)）人 蘇州眾為光電有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京遠(yuǎn)大卓悅知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張川
地址 215000江蘇省蘇州市高新區(qū)向街8號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的用于光子晶體光纖的測試平臺，包括模擬工作臺、底座，模擬工作臺包括轉(zhuǎn)動測試模組，底座上安裝有固定座、傳動模組；光子晶體光纖依次通過固定座、傳動模組，并與轉(zhuǎn)動測試模組的旋轉(zhuǎn)端連接；固定座用于將光子晶體光纖固定；傳動模組用于形成彎折光子晶體光纖的轉(zhuǎn)折點(diǎn)，并將光子晶體光纖導(dǎo)向轉(zhuǎn)動測試模組的旋轉(zhuǎn)端；通過固定座將光子晶體光纖固定，并驅(qū)使轉(zhuǎn)動測試模組轉(zhuǎn)動，從而使得光子晶體光纖扭轉(zhuǎn)，從而模擬光子晶體光纖使用狀態(tài)，光子晶體光纖的兩端與測試設(shè)備連接形成傳輸通路，從而得到的真實(shí)傳導(dǎo)效率，該測試平臺結(jié)構(gòu)可靠，使用方便。