一種光學(xué)檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811430369.0 申請日 -
公開（公告）號 CN109323989A 公開（公告）日 2019-02-12
申請公布號 CN109323989A 申請公布日 2019-02-12
分類號 G01N21/01;G01N21/88 分類 測量；測試;
發(fā)明人 鄒強;劉貝貝 申請（專利權(quán)）人 東莞融創(chuàng)智科光電科技有限公司
代理機構(gòu) 東莞科強知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 東莞融創(chuàng)智科光電科技有限公司
地址 523000 廣東省東莞市松山湖高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)工業(yè)西路14號三號樓223室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光學(xué)檢測系統(tǒng)，包括支撐架，所述支撐架的上端設(shè)置有用于安裝待測產(chǎn)品的治具和用于翻轉(zhuǎn)治具的翻轉(zhuǎn)機構(gòu)，所述治具的上方設(shè)置有光源檢測模組、用于驅(qū)動光源檢測模組沿Z軸方向移動的第一驅(qū)動機構(gòu)、用于驅(qū)動光源檢測模組沿X軸方向移動的第二驅(qū)動機構(gòu)和用于驅(qū)動光源檢測模組沿Y軸方向移動的第三驅(qū)動機構(gòu)，所述治具設(shè)置有若干用于固定待測產(chǎn)品的固定機構(gòu)，本發(fā)明光源檢測模組可沿XYZ三軸自行調(diào)整檢測位置，縮短檢測時間，提高檢測效率，翻轉(zhuǎn)機構(gòu)可將待測產(chǎn)品翻轉(zhuǎn)，使其正反兩面均可檢測，有效提高檢測精度。