一種磁瓦表面缺陷檢查系統(tǒng)及其檢查方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910932189.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN110514587B 公開(kāi)（公告）日 2021-12-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN110514587B 申請(qǐng)公布日 2021-12-21
分類號(hào) G01N19/08（2006.01）I;G01N5/00（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 唐睿;何進(jìn);陳益民 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 安徽萬(wàn)磁電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 合肥市澤信專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 方榮肖
地址 231524安徽省合肥市廬江縣石頭鎮(zhèn)工業(yè)園區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種磁瓦表面缺陷檢查系統(tǒng)及其檢查方法，系統(tǒng)包括殼體、夾緊裝置、傳輸裝置一、凸面檢測(cè)裝置、傳輸裝置二、凹面檢測(cè)裝置、定位裝置以及控制器。夾緊裝置包括固定擋板、移動(dòng)擋板、定位組件、測(cè)距傳感器一以及驅(qū)動(dòng)組件，傳輸裝置一包括電磁鐵一、伸縮件一以及傳輸組件一，凸面檢測(cè)裝置包括檢測(cè)座一、若干個(gè)觸壓開(kāi)關(guān)一以及若干個(gè)探針一。傳輸裝置二包括電磁鐵二、伸縮件二以及傳輸組件二，凹面檢測(cè)裝置包括檢測(cè)座二、若干個(gè)觸壓開(kāi)關(guān)二以及若干個(gè)探針二，定位裝置包括測(cè)距傳感器二和測(cè)距傳感器三。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了對(duì)磁瓦的凹凸面的缺陷檢查，提高缺陷的檢查效果，可以降低勞動(dòng)強(qiáng)度，保護(hù)工人的眼睛，而且提高缺陷檢查的效率和誤檢率。