商標進度

商標申請
2012-11-22
初審公告
2014-02-06
已注冊
2014-05-07
終止
2024-05-06
商標詳情

| 商標 |
K
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| 商標名稱 | KIS | 商標狀態(tài) | 商標已注冊 |
| 申請日期 | 2012-11-22 | 申請/注冊號 | 11782645 |
| 國際分類 | 09類-科學儀器 | 是否共有商標 | 否 |
| 申請人名稱(中文) | 蘇州優(yōu)納科技有限公司 | 申請人名稱(英文) | - |
| 申請人地址(中文) | 江蘇省蘇州市蘇州高新區(qū)泰山路2號27號廠房西 | 申請人地址(英文) | - |
| 商標類型 | 變更商標申請人/注冊人名義/地址---核準證明打印發(fā)送 | 商標形式 | - |
| 初審公告期號 | 1394 | 初審公告日期 | 2014-02-06 |
| 注冊公告期號 | 11782645 | 注冊公告日期 | 2014-05-07 |
| 優(yōu)先權(quán)日期 | - | 代理/辦理機構(gòu) | 北京銘碩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 |
| 國際注冊日 | - | 后期指定日期 | - |
| 專用權(quán)期限 | 2014-05-07-2024-05-06 | ||
| 商標公告 | - | ||
| 商品/服務(wù) |
半導體檢測設(shè)備(0910)
光學全自動印刷電路板檢測設(shè)備(0910)
晶圓缺陷檢測設(shè)備(光學檢測設(shè)備)(0910)
集成電路板自動光學檢測設(shè)備(0910)
印刷電路板檢測設(shè)備(0910)
平板電子產(chǎn)品自動光學檢測設(shè)備(0910)
半導體檢測設(shè)備()
光學全自動印刷電路板檢測設(shè)備()
晶圓缺陷檢測設(shè)備(光學檢測設(shè)備)()
集成電路板自動光學檢測設(shè)備()
印刷電路板檢測設(shè)備()
平板電子產(chǎn)品自動光學檢測設(shè)備()
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| 商標流程 |
2012-11-22
商標注冊申請---申請收文
2012-12-04
商標注冊申請---打印受理通知
2013-10-22
商標注冊申請---打印駁回通知
2014-02-17
商標注冊申請---等待注冊證發(fā)文
2014-02-17
商標注冊申請---注冊證發(fā)文
2014-09-04
商標注冊申請---打印注冊證
2015-11-13
商標轉(zhuǎn)讓---申請收文
2016-07-18
商標轉(zhuǎn)讓---核準證明打印發(fā)送
2020-03-12
變更商標申請人/注冊人名義/地址---申請收文
2020-04-17
變更商標申請人/注冊人名義/地址---核準證明打印發(fā)送 |
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