碳化硅質量檢測的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410829147.1 申請日 -
公開（公告）號 CN104535603B 公開（公告）日 2017-02-22
申請公布號 CN104535603B 申請公布日 2017-02-22
分類號 G01N25/14(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 于琨;楊雪飛 申請（專利權）人 光為綠色能源科技有限公司
代理機構 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 代理人 鄭小粵
地址 074000 河北省保定市高碑店市東方路北側興隆大街西側
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種碳化硅質量檢測的方法。該方法包括碳化硅粒度檢測及碳化硅潔凈度檢測，其中：碳化硅粒度檢測中將第一預設質量的第一待測碳化硅樣品及第二預設質量的純凈水放入到帶刻度的量筒中，攪拌后記錄量筒中的液體的初始液位；并至固液分離界面穩(wěn)定后得到最終固液分離液位；通過比較最終固液分離液位和初始液位作比值，判斷第一待測碳化硅樣品粒度是否合格。碳化硅潔凈度檢測將第三預設質量的第二待測碳化硅樣品及第四預設質量的純凈水放入到容器中攪拌均勻；并將溶液煮沸第三預設時間后冷卻到室溫；通過查看冷卻后是否有結團狀物質吸附于容器內壁，判斷第二待測碳化硅樣品的潔凈度是否合格。其檢測條件要求低，檢測成本低，檢測效率高。