用于測量陶瓷元件巴塊疊層厚度的裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120509150.0 申請日 -
公開（公告）號 CN214426674U 公開（公告）日 2021-10-19
申請公布號 CN214426674U 申請公布日 2021-10-19
分類號 G01B21/08（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐文鋒 申請（專利權）人 廣東微容電子科技有限公司
代理機構 深圳市國高專利代理事務所（普通合伙） 代理人 陳冠豪
地址 527200廣東省云浮市羅定市雙東街道創(chuàng)業(yè)二路1號微容科技園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及陶瓷元件厚度測量領域，公開了一種用于測量陶瓷元件巴塊疊層厚度的裝置，該裝置包括：測量臺、高度計、測量桿和固定桿，其特征在于，所述裝置還包括可帶動測量桿上下運動的杠桿組件，所述杠桿組件包括：套筒，套于所述固定桿下段；杠桿，所述杠桿的支點設于套筒處，通過螺絲與所述套筒外側活動連接；所述杠桿的阻力臂末端設有開口，通過所述開口與所述測量桿下段活動卡接；擋片，固定設于所述測量桿下段緊鄰所述開口的上方之處。通過上述方式，解決現(xiàn)有測量裝置受人為因素影響，測值穩(wěn)定性差，結果精確度差的問題。