一種基片表面檢測(cè)方法和設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811016795.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN109211733B 公開(kāi)(公告)日 2021-04-06
申請(qǐng)公布號(hào) CN109211733B 申請(qǐng)公布日 2021-04-06
分類號(hào) G01N13/00(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 陳子天;李文濤 申請(qǐng)(專利權(quán))人 賽納生物科技(北京)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京萬(wàn)象新悅知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 蘇愛(ài)華
地址 102206北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)科創(chuàng)七街29號(hào)院7樓1層101室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種基片表面檢測(cè)方法和設(shè)備,利用基片同檢測(cè)液體之間的接觸線以及夾角的變化檢測(cè)基片的均勻性。本發(fā)明提供一種基片表面檢測(cè)方法和設(shè)備,其包括移動(dòng)裝置,第一容器,第一液體,液面探測(cè)裝置;所述第一液體盛放在第一容器中;所述移動(dòng)裝置用于使基片與第一液體產(chǎn)生相對(duì)運(yùn)動(dòng);所述液面探測(cè)裝置用于探測(cè)液體與基片之間的夾角。這種方法可以用于檢測(cè)基片表面的均勻性。本發(fā)明設(shè)備具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,造價(jià)低,檢測(cè)速度快等特點(diǎn)。??