光學模組內(nèi)參畸變校正機

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122384042.8 申請日 -
公開（公告）號 CN215985117U 公開（公告）日 2022-03-08
申請公布號 CN215985117U 申請公布日 2022-03-08
分類號 G01M11/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳鵝成;李洪亮;劉友亮 申請（專利權(quán)）人 江西鳳凰光學科技有限公司
代理機構(gòu) 杭州君度專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 楊天嬌
地址 334000江西省上饒市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)鳳凰西大道197號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種光學模組內(nèi)參畸變校正機，旨在解決目前市場上的校正設(shè)備在畸變校正圖像時受徑向、切向、圖像焦距、圖像亮度等因素影響，不能更好的對圖像進行校正的問題，包括內(nèi)部中空的機體和設(shè)置于機體一側(cè)用于入料和出料的機體門，所述機體的內(nèi)腔中設(shè)有用于光學模組定位后自由切換姿態(tài)的鏡頭自由切換機構(gòu)；所述鏡頭自由切換機構(gòu)對應(yīng)光學模組位置的上方和下方分別設(shè)有配套的分辨率測試標板總成和分辨率測試頭，用于精準多位置、多角度進行光學模組內(nèi)參畸變校正。本實用新型尤其適用于光學模組內(nèi)參畸變自動校正，具有較高的社會使用價值和應(yīng)用前景。