一種多功能芯片測試插座

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021031108.4 申請日 -
公開（公告）號 CN212459784U 公開（公告）日 2021-02-02
申請公布號 CN212459784U 申請公布日 2021-02-02
分類號 G01R1/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 叢維;金生 申請（專利權(quán)）人 南京優(yōu)存科技有限公司
代理機構(gòu) 上海驍象知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 邱丹
地址 210000江蘇省南京市江北新區(qū)星火路17號創(chuàng)智大廈B座10C-A131
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種多功能芯片測試插座，屬于芯片測試插座技術(shù)領域，其包括測試插座，所述測試插座內(nèi)壁的左右兩側(cè)面均開設有凹槽，且兩個凹槽內(nèi)均卡接有卡塊，所述卡塊的下表面固定連接有滑塊，所述滑塊滑動連接在滑槽內(nèi)，所述滑槽開設在測試殼內(nèi)壁的下表面，所述測試殼卡接設置在測試插座內(nèi)。該多功能芯片測試插座，通過設置測試殼、拉環(huán)、測試板、活動塊、滑塊和第二彈簧，使得工作人員在需要將芯片取出時，只需向上拉動拉環(huán)即可，在需要安裝時，只需通過活動塊就可以對芯片進行固定，不僅方便了工作人員安裝或取出芯片，且大大提高了檢測的效率，減少了大部分繁瑣的步驟，且在檢測時，芯片不易出現(xiàn)掉落的情況。??