一種基于ATE芯片測試的同步方法和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110648250.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113407396A 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN113407396A 申請公布日 2021-09-17
分類號 G06F11/22（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 鄔剛;莫保健 申請（專利權）人 杭州加速科技有限公司
代理機構 浙江杭知橋律師事務所 代理人 陳麗霞
地址 310000浙江省杭州市余杭區(qū)余杭街道文一西路1818-1號1幢103M室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及ATE芯片測試技術，公開了一種基于ATE芯片測試的同步方法和系統(tǒng)，其包括主控CPU下發(fā)芯片測試程序至主控FPGA，主控FPGA發(fā)送芯片測試程序至業(yè)務板，業(yè)務板上的FPGA芯片測試執(zhí)行模塊同步啟動測試；業(yè)務板FPGA芯片測試執(zhí)行模塊進行測試程序的運行；業(yè)務板FPGA芯片測試執(zhí)行模塊對芯片測試結果進行判斷，成功則測試結果信號置高，否則測試結果信號置低；FPGA芯片測試執(zhí)行模塊將測試結果通過背板同步至主控板FPGA的同步控制模塊；本發(fā)明通過減少ATE設備在芯片過程中數(shù)據(jù)采集與數(shù)據(jù)分析的時間，將部分測試結果判斷動作放在業(yè)務板中實現(xiàn)，從而提高芯片測試效率，降低測試成本。