一種基于偽影剔除的印刷品缺陷檢測(cè)方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010884956.8 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN111986190B 公開（公告）日 2022-03-18
申請(qǐng)公布號(hào) CN111986190B 申請(qǐng)公布日 2022-03-18
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T7/12（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I;G06T7/73（2017.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G01N21/88（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 李東明;盧光明;范元一;郭成昊;羅子娟 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳富聯(lián)富桂精密工業(yè)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市添源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黎健任
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道深圳大學(xué)城哈爾濱工業(yè)大學(xué)校區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于偽影剔除的印刷品缺陷檢測(cè)方法及裝置，該方法包括：圖像定位配準(zhǔn)：基于linemod特征點(diǎn)定位配準(zhǔn)算法，將標(biāo)準(zhǔn)模板圖像與待檢測(cè)印刷品目標(biāo)圖像進(jìn)行定位配準(zhǔn)；目標(biāo)圖像偽影剔除：將定位配準(zhǔn)后的標(biāo)準(zhǔn)圖像和目標(biāo)圖像分別劃分為若干相同大小的子塊，利用子塊鄰域滑動(dòng)偽影剔除法剔除目標(biāo)圖像局部形變引起的偽影；提取最終差分圖背景區(qū)域缺陷：對(duì)標(biāo)準(zhǔn)圖像提取輪廓并做數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)膨脹運(yùn)算，得到輪廓掩模，利用輪廓掩模覆蓋法分割最終差分圖為輪廓及非輪廓區(qū)域，提取及判別最終差分圖非輪廓區(qū)域及輪廓區(qū)域中的缺陷，最后對(duì)缺陷進(jìn)行整合并輸出顯示。本發(fā)明方法及裝置可以成功檢測(cè)臟污、殘缺、重影、移位、劃傷、漏印等缺陷。