一種印刷品缺陷檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011276192.0 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN112508826B 公開(kāi)（公告）日 2022-03-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN112508826B 申請(qǐng)公布日 2022-03-01
分類號(hào) G06T5/20（2006.01）I;G06T5/00（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I;G06T7/33（2017.01）I;G06T7/73（2017.01）I;G06T3/00（2006.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06V10/44（2022.01）I;G06V10/74（2022.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 李東明;盧光明;范元一;陳勇杰 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳富聯(lián)富桂精密工業(yè)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市添源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黎健任
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道深圳大學(xué)城哈爾濱工業(yè)大學(xué)校區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種基于特征配準(zhǔn)及梯度形狀匹配融合的印刷品缺陷檢測(cè)方法，包括制作標(biāo)準(zhǔn)模板圖像步驟、待測(cè)圖像初次定位配準(zhǔn)步驟、基于AKAZE特征點(diǎn)的二次配準(zhǔn)步驟、提取潛在缺陷區(qū)域及掩模步驟、基于圖像梯度特征及改進(jìn)余弦相似度匹配算法判別真?zhèn)稳毕莶襟E和缺陷融合判定及可視化步驟。本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明基于非線性尺度空間的AKAZE特征點(diǎn)二次配準(zhǔn)矯正，在保留真缺陷的前提下對(duì)待測(cè)圖像進(jìn)行有效的配準(zhǔn)，更有利于后續(xù)的偽影剔除及缺陷檢測(cè)。本發(fā)明對(duì)潛在缺陷范圍加以限制，避免由于潛在缺陷的膨脹導(dǎo)致粘連，導(dǎo)致缺陷區(qū)域?qū)Φ梅值挠绊憸p弱。潛在缺陷區(qū)域掩模的引入，只保留潛在缺陷本身的信息，屏蔽潛在缺陷外的信息，能有效去除缺陷外的圖像對(duì)特征提取的干擾。本發(fā)明的缺陷判別只針對(duì)潛在缺陷區(qū)域采用改進(jìn)的余弦相似度形狀匹配算法，引入非線性激活函數(shù)同步考慮圖像梯度向量的方向和長(zhǎng)度對(duì)相似度得分的影響。