發(fā)光二極管以及發(fā)光二極管制備方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201911119309.1 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN110707188B | 公開(公告)日 | 2021-05-04 |
| 申請公布號 | CN110707188B | 申請公布日 | 2021-05-04 |
| 分類號 | H01L33/06;H01L33/32;H01L33/14;H01L33/12;H01L33/00 | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 王晟 | 申請(專利權)人 | 蕪湖德豪潤達光電科技有限公司 |
| 代理機構 | 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 | 代理人 | 石慧 |
| 地址 | 241000 安徽省蕪湖市經(jīng)濟技術開發(fā)區(qū)緯二次路11號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請?zhí)峁┮环N發(fā)光二極管以及發(fā)光二極管制備方法。AlN層可以提高能階,阻擋電子溢流。摻鎂InxAlyGa1?x?yN層可以緩解晶格匹配以及提高所述P型半導體層的能階,進而更有利于空穴注入。所述摻鎂InGaN層通過增加鎂的含量可以提高空穴濃度。此時,通過每個子半導體層中AlN層、摻鎂InxAlyGa1?x?yN層以及摻鎂InGaN層可以保證晶格質量的同時提高Mg的有效活化,增加空穴濃度。同時,通過AlN層、摻鎂InxAlyGa1?x?yN層以及摻鎂InGaN層可以優(yōu)化能階,進而阻擋電子溢流的同時增加空穴濃度。從而,通過阻擋電子溢流的同時增加空穴濃度,可以提高外延良率和發(fā)光效率。 |





