一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910694076.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110473178A 公開（公告）日 2019-11-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN110473178A 申請(qǐng)公布日 2019-11-19
分類號(hào) G06T7/00;G06T7/10;G06T7/62;G06K9/46 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 閆龑;陳果;王洋;毛雪慧 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海深視信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海精晟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 上海深視信息科技有限公司
地址 200241 上海市閔行區(qū)東川路555號(hào)乙樓1027室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)及設(shè)備。一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)方法包括S1：使用多角度光源對(duì)檢材表面進(jìn)行拍攝，獲得多張檢材圖像；S2：對(duì)所述多張檢材圖像進(jìn)行預(yù)處理，得到檢材預(yù)處理圖像；S3：將所述檢材預(yù)處理圖像進(jìn)行融合處理，得到檢材融合處理圖像；S4：將所述檢材融合處理圖像輸入到預(yù)先訓(xùn)練的深度學(xué)習(xí)模型中，得到判別結(jié)果；S5：存儲(chǔ)所述判別結(jié)果與所述多張檢材圖像，用于所述深度學(xué)習(xí)模型的模型升級(jí)。一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)包括立體光源圖像采集模塊、圖像預(yù)處理模塊、圖像檢測(cè)模塊。一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備包括存儲(chǔ)器、處理器。本發(fā)明的有益效果是低成本檢測(cè)缺陷。