激光芯片老化測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021665211.4 申請日 -
公開（公告）號 CN212567879U 公開（公告）日 2021-02-19
申請公布號 CN212567879U 申請公布日 2021-02-19
分類號 G01M11/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 安海巖;王威;徐豪 申請（專利權(quán)）人 武漢銳晶激光芯片技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京眾達德權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李嬌
地址 430000湖北省武漢市未來科技城A5北C1棟902室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種激光芯片老化測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：老化測試模塊，安裝有多個待測試芯片；光纖傳輸模塊，包括多根光纖，每根光纖對應(yīng)于一個待測試芯片，每根光纖的第一端設(shè)置在相應(yīng)待測試芯片的出光位置處以收集該待測試芯片發(fā)射的激光，第二端將激光輸出；收光測試模塊，用于采集及測試光纖傳輸模塊輸出的激光，以進一步對收光測試模塊輸出的測量數(shù)據(jù)進行分析，得到待測試芯片的老化測試數(shù)據(jù)。這樣就可以實現(xiàn)老化測試與光學(xué)測試在空間上的解耦，有效地簡化了系統(tǒng)設(shè)計。??