ITO導(dǎo)電玻璃檢測方法與檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610135623.9 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN107014830A 公開（公告）日 2017-08-04
申請公布號(hào) CN107014830A 申請公布日 2017-08-04
分類號(hào) G01N21/958 分類 測量；測試;
發(fā)明人 梁鴻 申請（專利權(quán)）人 上海帆煊科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海容慧專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 于曉菁
地址 201206 上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)新金橋路27號(hào)13樓2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種ITO導(dǎo)電玻璃檢測方法與檢測裝置，所述檢測方法包括：對(duì)ITO導(dǎo)電玻璃的待檢測表面進(jìn)行連續(xù)拍攝，獲得能夠覆蓋所述待檢測表面全部圖形區(qū)域的所有目標(biāo)圖像；對(duì)拍攝獲得的各個(gè)目標(biāo)圖像進(jìn)行預(yù)處理；對(duì)各個(gè)經(jīng)過預(yù)處理的目標(biāo)圖像進(jìn)行斷點(diǎn)檢測，所述斷點(diǎn)檢測包括：檢測預(yù)處理后的目標(biāo)圖像上的每個(gè)像素點(diǎn)，判斷各像素點(diǎn)是否處于直線的斷點(diǎn)上，所述斷點(diǎn)為一條直線上像素點(diǎn)亮度出現(xiàn)突變而導(dǎo)致不連續(xù)的像素區(qū)域；從通過所述斷點(diǎn)檢測后所有被判斷為斷點(diǎn)的區(qū)域中，排除屬于正常斷點(diǎn)的區(qū)域，并將其余斷點(diǎn)的區(qū)域確定為劃傷區(qū)域。本發(fā)明技術(shù)方案能簡單、高效、準(zhǔn)確地檢測出ITO導(dǎo)電玻璃待檢測表面的導(dǎo)電線路細(xì)微劃傷情況以及短路情況。