存儲器芯片的動態(tài)老化測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201920046768.0 申請日 -
公開（公告）號 CN209486213U 公開（公告）日 2019-10-11
申請公布號 CN209486213U 申請公布日 2019-10-11
分類號 G01R31/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 宋曉力;龐戈;羅鑫鋒;郭莉 申請（專利權(quán)）人 西安君信電子科技有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 深圳市精英專利事務(wù)所 代理人 馮筠
地址 710000 陜西省西安市國家民用航天產(chǎn)業(yè)基地神舟四路航創(chuàng)國際廣場2棟401室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及存儲器芯片的動態(tài)老化測試裝置，包括柜體、顯示結(jié)構(gòu)、溫控器以及若干個加熱盒，柜體內(nèi)設(shè)有若干個供加熱盒插設(shè)在內(nèi)的插槽，溫控器設(shè)于柜體上，且插槽內(nèi)設(shè)有老化板，加熱盒與插槽內(nèi)的老化板連接，加熱盒與溫控器連接，顯示結(jié)構(gòu)與老化板連接，加熱盒包括夾持功率器件的夾具以及加熱片，加熱片與溫控器連接，加熱片與夾具連接。本實用新型通過設(shè)置單獨的加熱盒對夾具以及功率器件進行加熱，避免控制器的故障，降低更換成本，功率器件與老化板的連接方面采用夾具內(nèi)的工位設(shè)置的探針，配合與探針連接的金手指，該金手指與老化板連接，從而實現(xiàn)對功率器件的老化測試，柜體上設(shè)置多個插槽，可同時進行多個存儲器芯片的老化測試，提高產(chǎn)能。