平板探測器的壞點(diǎn)校正方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510232797.2 申請日 -
公開（公告）號 CN104835125B 公開（公告）日 2018-04-03
申請公布號 CN104835125B 申請公布日 2018-04-03
分類號 G06T5/00 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 陳永麗;牛杰;胡揚(yáng);崔凱;張文日 申請（專利權(quán)）人 聯(lián)影（常州）醫(yī)療科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司;聯(lián)影（常州）醫(yī)療科技有限公司
地址 201815 上海市嘉定區(qū)城北路2258號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種平板探測器的壞點(diǎn)校正方法，是對平板探測器進(jìn)行壞點(diǎn)識別，將壞點(diǎn)分為第一類壞點(diǎn)和第二類壞點(diǎn)，并分別采取不同的方法校正第一類壞點(diǎn)和第二類壞點(diǎn)。此方法分別對相對獨(dú)立的壞點(diǎn)和相對集中的壞點(diǎn)采取不同的方法進(jìn)行校正，可以降低校正難度，提高校正的準(zhǔn)確性。