高分六號衛(wèi)星的高分相機的高精度校驗方法和裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011262994.6 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112097798B | 公開（公告）日 | 2021-03-26 |
| 申請公布號 | CN112097798B | 申請公布日 | 2021-03-26 |
| 分類號 | G01C25/00(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 張谷生;王慧靜;劉建明;梁斯東;吳麗沙 | 申請（專利權(quán)）人 | 北京道達天際科技股份有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京華專卓海知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 王一 |
| 地址 | 100085北京市海淀區(qū)馬連洼北路8號C座7層703室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本公開提供了高分六號衛(wèi)星的高分相機的高精度校驗方法和裝置。所述方法包括：根據(jù)預(yù)設(shè)規(guī)則對當前影像進行外定標，生成外定標影像數(shù)據(jù)，并將所述外定標影像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換到空間固定坐標系，生成轉(zhuǎn)換后的影像數(shù)據(jù)，其中，所述當前影像為所述高分六號衛(wèi)星的高分相機的中間第四片的探元陣列采集到的影像；利用預(yù)先生成的內(nèi)定標數(shù)據(jù)對所述轉(zhuǎn)換后的影像數(shù)據(jù)進行修正，生成校驗后的衛(wèi)星影像。通過本公開的方法，能夠有效消除和補償衛(wèi)星平臺外部系統(tǒng)誤差和相機內(nèi)部系統(tǒng)誤差。?? |
