頻率源的溫度補(bǔ)償參數(shù)確定方法和裝置
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010873945.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)(公告)號(hào) | CN111884589B | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-11-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111884589B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-05 |
| 分類(lèi)號(hào) | H03B5/04(2006.01)I | 分類(lèi) | 基本電子電路; |
| 發(fā)明人 | 賈涵陽(yáng);侯中原 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 硅谷數(shù)模(蘇州)半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 黃海英 |
| 地址 | 215000江蘇省蘇州市高新區(qū)竹園路209號(hào)4號(hào)樓1801 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種頻率源的溫度補(bǔ)償參數(shù)確定方法和裝置。該方法包括:獲取預(yù)設(shè)數(shù)量的目標(biāo)型號(hào)芯片的片內(nèi)頻率源的溫度補(bǔ)償斜率的均值,并將溫度補(bǔ)償斜率的均值確定為目標(biāo)型號(hào)芯片的片內(nèi)頻率源的溫度補(bǔ)償斜率;獲取待測(cè)芯片的片內(nèi)頻率源在第一溫度下的工作頻率,其中,待測(cè)芯片為目標(biāo)型號(hào)的芯片;基于目標(biāo)型號(hào)芯片的片內(nèi)頻率源的溫度補(bǔ)償斜率、第一溫度以及第一溫度下的工作頻率,確定待測(cè)芯片的片內(nèi)頻率源的溫度補(bǔ)償偏置參數(shù);將溫度補(bǔ)償斜率和溫度補(bǔ)償偏置參數(shù)確定為待測(cè)芯片的片內(nèi)頻率源的溫度補(bǔ)償參數(shù)。通過(guò)本申請(qǐng),解決了相關(guān)技術(shù)中采用機(jī)臺(tái)批量加熱芯片以校準(zhǔn)芯片的片上頻率源的溫度補(bǔ)償參數(shù),耗時(shí)長(zhǎng)、成本高的問(wèn)題。 |





