一種二維單射曲面數(shù)據(jù)的特征提取與匹配方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010500552.0 申請日 -
公開（公告）號 CN101957992B 公開（公告）日 2012-05-02
申請公布號 CN101957992B 申請公布日 2012-05-02
分類號 G06T7/00(2006.01)I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 吳靜;劉永進;羅曦 申請（專利權(quán)）人 蘇州國溯環(huán)境發(fā)展有限公司
代理機構(gòu) 北京鴻元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 清華大學(xué);蘇州國溯環(huán)境發(fā)展有限公司
地址 100084 北京市100084信箱82分箱清華大學(xué)專利辦公室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種二維單射曲面數(shù)據(jù)的特征提取和匹配方法，該方法首先將二維單射曲面數(shù)據(jù)投影到灰度值與數(shù)據(jù)值成正比的灰度圖像，并將圖像中的灰度值歸一化到區(qū)間[0，255]中，然后從圖像中提取特征點集；以特征點集中的每一個特征點作為參考點，在圖像中繪制通過該特征點的等灰度線，且在圖像中連接同一等灰度線上的特征點，這些等灰度線以及特征點之間的連線將圖像劃分成連續(xù)的區(qū)域塊，根據(jù)區(qū)域塊之間的包圍和相鄰關(guān)系構(gòu)造一個Reeb圖。對于需要匹配的兩個二維單射曲面數(shù)據(jù)，通過匹配兩個Reeb圖中的結(jié)點，計算結(jié)點之間的相似度，所有匹配結(jié)點的相似度之和為兩個二維單射曲面數(shù)據(jù)之間的相似度。本發(fā)明所提供的方法使得提取的特征容易計算，并且穩(wěn)定性強。