一種方便對電極箔展平的檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010179097.2 申請日 -
公開（公告）號 CN111288879B 公開（公告）日 2021-06-22
申請公布號 CN111288879B 申請公布日 2021-06-22
分類號 G01B5/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳建軍;薛海燕 申請（專利權(quán)）人 江蘇榮生電子有限公司
代理機構(gòu) 鹽城高創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳民
地址 224600 江蘇省鹽城市響水縣經(jīng)濟開發(fā)區(qū)雙園路3號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及方便對電極箔展平的檢測裝置領(lǐng)域，具體的說是一種方便對電極箔展平的檢測裝置，包括框架、距離調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)、導(dǎo)向結(jié)構(gòu)、檢測結(jié)構(gòu)、標(biāo)記結(jié)構(gòu)、展平結(jié)構(gòu)和驅(qū)動結(jié)構(gòu)；框架上設(shè)有兩個對稱的距離調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)，距離調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)和框架上均設(shè)有轉(zhuǎn)動連接的用于輸送電極箔的導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，進(jìn)而便于通過距離調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)調(diào)節(jié)框架上的導(dǎo)向結(jié)構(gòu)與距離調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)上的導(dǎo)向結(jié)構(gòu)之間的距離，便于適用于不同厚度的電極箔，通過驅(qū)動結(jié)構(gòu)驅(qū)動框架的內(nèi)部的導(dǎo)向結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)動，進(jìn)而便于快速的控制電極箔在框架上移動；框架的中線處設(shè)有用于檢測電極箔平整度的檢測結(jié)構(gòu)，進(jìn)而便于通過千分表快速的對電極箔的表面的平整度進(jìn)行檢測，配合導(dǎo)向結(jié)構(gòu)的使用，使電極箔的檢測的效率更高。