帶倒扣電極的三坐標(biāo)自動化檢測實(shí)現(xiàn)方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711104517.5 申請日 -
公開（公告）號 CN107869939A 公開（公告）日 2018-04-03
申請公布號 CN107869939A 申請公布日 2018-04-03
分類號 G01B5/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 彭新開;俞翔;班夢凱;鄭冠雄 申請（專利權(quán)）人 中數(shù)復(fù)新智能科技（上海）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海交達(dá)專利事務(wù)所 代理人 上海愛堃智能系統(tǒng)有限公司
地址 201602 上海市松江區(qū)佘山鎮(zhèn)陶干路701號5幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種帶倒扣電極的三坐標(biāo)自動化檢測實(shí)現(xiàn)方法，克服現(xiàn)有的三坐標(biāo)測量自動檢測無法生成測針與帶倒扣電極無干涉的測量軌跡的缺點(diǎn)，本發(fā)明充分考慮了電極倒扣面的存在對三坐標(biāo)自動檢測程序生成的影響，克服了現(xiàn)有的三坐標(biāo)檢測程序自動生成的測針測量軌跡與待測帶倒扣電極的干涉問題，利用本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)帶倒扣電極測量程式的自動生成。通過實(shí)際測試證明，本發(fā)明可方便快捷地得到三坐標(biāo)檢測儀的測針與帶倒扣電極無干涉的測量軌跡，滿足三坐標(biāo)檢測儀對帶倒扣電極形狀和尺寸精確測量的需要。