一種測試設(shè)備及其測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111405547.6 申請日 -
公開（公告）號 CN114167478A 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN114167478A 申請公布日 2022-03-11
分類號 G01T1/202（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 蔡超;汪飛;凌怡清;謝慶國 申請（專利權(quán)）人 湖北銳世數(shù)字醫(yī)學影像科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 436000湖北省鄂州市梧桐湖新區(qū)鳳凰大道9號東湖高新科技創(chuàng)意城A-03
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種測試設(shè)備及其測試方法，屬于高能光子測試領(lǐng)域，測試設(shè)備包括至少一測試模塊，其包括位移臺，用于提供至少一個方向上的位移；安裝裝置，將電路板安裝于位移臺；支撐裝置，用于承載閃爍晶體以及臨近所述閃爍晶體的射源；位移臺調(diào)節(jié)電路板的位置以使電路板與閃爍晶體耦合。本申請的技術(shù)方案中電路板以及閃爍晶體的安裝簡單、快捷，電路板與閃爍晶體能夠更加精準的耦合，從而保證了探頭性能測試的準確性和可重復(fù)性。