能量校正方法、裝置、設(shè)備、系統(tǒng)及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202011193210.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN112415568A | 公開(公告)日 | 2021-02-26 |
| 申請公布號 | CN112415568A | 申請公布日 | 2021-02-26 |
| 分類號 | G01T7/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 房磊;張博;肖鵬 | 申請(專利權(quán))人 | 湖北銳世數(shù)字醫(yī)學(xué)影像科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 436000湖北省鄂州市梧桐湖新區(qū)鳳凰大道9號東湖高新科技創(chuàng)意城A-03 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請實施例公開了一種能量校正方法、裝置、設(shè)備、系統(tǒng)及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì),該方法可以用于對包括多個探測通道并且每個探測通道的探測數(shù)據(jù)被獨(dú)立讀取的輻射探測器進(jìn)行能量校正,包括以下步驟:獲取在對一個特定放射源發(fā)出的粒子進(jìn)行探測時特定探測通道實際測得的粒子能量,其中,所述特定探測通道為多個所述探測通道中的出現(xiàn)粒子在其晶體條內(nèi)完全沉積的探測通道,并且所述探測數(shù)據(jù)包括所述粒子能量;根據(jù)所獲取的所述粒子能量以及所述粒子的真實能量,計算每個所述特定探測通道的校正系數(shù);利用所述校正系數(shù)對每個所述特定探測通道進(jìn)行能量校正。通過利用本申請實施例提供的技術(shù)方案,可以降低成本以及簡化能量校正操作流程。?? |





