一種MOCVD反應腔測溫方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201310655549.X | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN104697666B | 公開(公告)日 | 2017-12-26 |
| 申請公布號 | CN104697666B | 申請公布日 | 2017-12-26 |
| 分類號 | G01K13/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 嚴冬;馬鐵中;王林梓;劉健鵬;焦宏達 | 申請(專利權)人 | 昂坤視覺(北京)科技有限公司 |
| 代理機構 | 北京華沛德權律師事務所 | 代理人 | 北京智朗芯光科技有限公司;昂坤視覺(北京)科技有限公司 |
| 地址 | 102206 北京市昌平區(qū)昌平路97號新元科技園B座503室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種MOCVD反應腔測溫方法,屬于半導體制造技術領域。該方法包括獲得雙波長測溫結構的MOCVD反應腔的校準系數(shù);測量實際熱輻射功率,將校準系數(shù)和實際熱輻射功率代入公式,計算得到MOCVD反應腔的溫度。該方法由于雙波長測溫結構的MOCVD反應腔經過校準,計算得到的MOCVD反應腔的溫度值更接近真值。 |





