一種熒光檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210182976.X 申請日 -
公開（公告）號 CN114544575A 公開（公告）日 2022-05-27
申請公布號 CN114544575A 申請公布日 2022-05-27
分類號 G01N21/64（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張超;黃寶福 申請（專利權(quán)）人 威高（蘇州）醫(yī)療器械研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 215163江蘇省蘇州市高新區(qū)科靈路88號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種熒光檢測系統(tǒng)，涉及熒光檢測領(lǐng)域。本申請所提供的熒光檢測系統(tǒng)，包括：激發(fā)光源、透鏡、用于放置樣品的待檢區(qū)域、熒光成像系統(tǒng)，還包括：平面反射裝置；激發(fā)光源、透鏡、平面反射裝置、熒光成像系統(tǒng)、待檢區(qū)域依次放置，且共光軸；平面反射裝置關(guān)于光軸對稱放置；待檢區(qū)域接收平面反射裝置反射的光來激發(fā)待檢區(qū)域放置的樣品產(chǎn)生熒光；熒光成像系統(tǒng)通過熒光對待檢區(qū)域放置的樣品進(jìn)行熒光成像。該系統(tǒng)中，平面反射裝置關(guān)于光軸對稱放置，將激發(fā)光源發(fā)出的光束分為多束關(guān)于光軸對稱分布的光路，并將光反射至待檢區(qū)域，從而在待檢區(qū)域形成均勻的光斑，解決了傳統(tǒng)的離軸傾斜照明光照不均勻的問題，提高了熒光檢測的準(zhǔn)確性。