一種超導磁體外磁屏蔽線圈的優(yōu)化設計方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010184409.5 申請日 -
公開（公告）號 CN101852843B 公開（公告）日 2014-07-30
申請公布號 CN101852843B 申請公布日 2014-07-30
分類號 G01R33/421(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 莫磊;史永凌;趙華煒 申請（專利權(quán)）人 南京景泉超導技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 南京天華專利代理有限責任公司 代理人 南京豐盛超導技術(shù)有限公司;寧波健信核磁技術(shù)有限公司
地址 211113 江蘇省南京市江寧經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)燕湖路37號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出了一種簡單、有效的無區(qū)間限制的多參數(shù)優(yōu)化算法，具體是一種超導磁體外磁屏蔽線圈的優(yōu)化設計算法，以用于超導磁體外磁屏蔽線圈的設計。本發(fā)明將超導磁體外磁屏蔽線圈設計所涉及的所有參數(shù)在初始值的基礎上根據(jù)優(yōu)化結(jié)果逐個變更，并在結(jié)果評價時考慮約束條件，根據(jù)結(jié)果優(yōu)化與否調(diào)整變更系數(shù)，從而實現(xiàn)設計參數(shù)優(yōu)化。