半導體分立器件多功能高精度測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201820791171.4 申請日 -
公開（公告）號 CN208270711U 公開（公告）日 2018-12-21
申請公布號 CN208270711U 申請公布日 2018-12-21
分類號 G01R31/26 分類 測量；測試;
發(fā)明人 董珂 申請（專利權）人 濟南固锝電子器件有限公司
代理機構 濟南信達專利事務所有限公司 代理人 濟南固锝電子器件有限公司
地址 250104 山東省濟南市高新開發(fā)區(qū)孫村片區(qū)科遠路1659號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種半導體分立器件多功能高精度測試系統(tǒng)，屬于電子設備測試儀技術領域，采用的技術方案為：其結構包括計算機信息采集及顯示模塊、總線控制單元、若干個測試儀以及若干個測試模塊，各個測試模塊獨立掛置在總線控制單元上，總線控制單元連接各個測試儀，各個測試儀分別連接計算機信息采集及顯示模塊，計算機信息采集及顯示模塊用于采集數據并顯示測試儀測試結果數據。本實用新型將多種半導體元器件的測試和批量測試集于一體，通過計算機實現(xiàn)數據信息的全面采集，同時采用統(tǒng)一軌道多組模具的方式來實現(xiàn)多種元器件的批量測試，提高生產效率。