孔深誤差測量檢具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021242007.1 申請日 -
公開（公告）號 CN212931286U 公開（公告）日 2021-04-09
申請公布號 CN212931286U 申請公布日 2021-04-09
分類號 G01B5/18 分類 測量；測試;
發(fā)明人 黎國棟;梁鎮(zhèn);覃文林 申請（專利權）人 廣西南星科技有限公司
代理機構 柳州市集智專利商標事務所 代理人 鄧丹丹
地址 530007 廣西壯族自治區(qū)南寧市高新區(qū)振華路20號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種孔深誤差測量檢具，涉及測量檢具技術領域，它包括外套、內套、測微儀和校準塊，外套的一端為與加工工件的設計基準面對齊的測量定位面，內套從另一端沿軸向插入外套中，測微儀的套筒和測量桿插入內套沿軸向開設的測微儀安裝孔內，測微儀、內套和外套通過緊固件相連接；內套具有插入加工工件的內孔的定位段，測量桿的頭部與加工工件的內孔的測量臺階面相抵觸；用于對測微儀進行調零的專用校準塊可放置在外套內，校準塊的高度為設計基準面和測量臺階面間距的設計平均值。本實用新型解決了現有孔深檢具無法直接測量基準面在工件外表面的孔深誤差，造成工件多尺寸精度要求高、加工難度大和成本高的問題。