測試裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202120393228.7 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN214843902U | 公開(公告)日 | 2021-11-23 |
| 申請公布號 | CN214843902U | 申請公布日 | 2021-11-23 |
| 分類號 | G01M11/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 李波;陳蕓;溫煦 | 申請(專利權(quán))人 | 廣州亞美智造科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 王裕波 |
| 地址 | 510665廣東省廣州市天河區(qū)翰景路1號201房自編H(僅限辦公) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實用新型公開一種測試裝置,該測試裝置包括底座及測試模塊,所述底座內(nèi)設(shè)有測試腔,所述底座的表面設(shè)有用于裝設(shè)待測試件的測試區(qū),且所述測試區(qū)設(shè)有用于與所述待測試件的測試部位對應(yīng)的測試孔;所述測試模塊設(shè)置于所述測試腔內(nèi),所述測試模塊通過所述測試孔測試所述待測試件中的待測試部位。上述測試裝置在使用時,將待測試件設(shè)置于所述測試區(qū),通過測試模塊對待測試件的待測試部位進(jìn)行測試,以代替手工測試,提升測試效率;進(jìn)一步地,通過將測試模塊設(shè)置于測試腔內(nèi),將待測試件的待測試部位與測試孔對應(yīng)設(shè)置,所述測試模塊通過所述測試孔測試所述待測試件中的待測試部位,可以減少外界因素對測試模塊的干擾,提升測試精度。 |





