AlN單晶薄膜生長(zhǎng)方法及具有該薄膜的聲表面波諧振器
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010954072.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)(公告)號(hào) | CN112038217A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-07-16 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112038217A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-16 |
| 分類(lèi)號(hào) | H01L21/02 | 分類(lèi) | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 李紅浪;柯亞兵;其他發(fā)明人請(qǐng)求不公開(kāi)姓名 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 廣東省廣納科技發(fā)展有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 張?chǎng)?/td> |
| 地址 | 510700 廣東省廣州市黃埔區(qū)開(kāi)源大道136號(hào)D棟1004室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提出了一種AlN單晶薄膜的生長(zhǎng)方法,在硅酸鎵鑭類(lèi)單晶上生長(zhǎng)AlN單晶薄膜,所述硅酸鎵鑭類(lèi)單晶的取向相對(duì)于AlN單晶薄膜的[002]晶向的偏差角度在0°至27°范圍內(nèi)。該方法顯著提高沉積的AlN單晶薄膜的質(zhì)量,提高單晶衍射峰的半高寬和薄膜的均勻一致性,有利于提高器件的性能。 |





