白盒測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備以及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011487970.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN114636571A | 公開（公告）日 | 2022-06-17 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114636571A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-17 |
| 分類號(hào) | G01M99/00（2011.01）I;B25J19/00（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 魏曉晨 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 北京配天技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 100085北京市海淀區(qū)東北旺西路8號(hào)9號(hào)樓3區(qū)103 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)公開了一種白盒測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該白盒測(cè)試方法包括：獲取待測(cè)機(jī)器人型號(hào)；基于待測(cè)機(jī)器人型號(hào)獲取基礎(chǔ)測(cè)試函數(shù)與測(cè)試集數(shù)據(jù)，進(jìn)行基礎(chǔ)參數(shù)測(cè)試；判斷是否通過基礎(chǔ)參數(shù)測(cè)試；若是，則基于待測(cè)機(jī)器人型號(hào)獲取功能測(cè)試函數(shù)與測(cè)試集數(shù)據(jù)，進(jìn)行功能測(cè)試。本申請(qǐng)根據(jù)待測(cè)機(jī)器人的型號(hào)，預(yù)先判斷其通過基礎(chǔ)參數(shù)測(cè)試，再進(jìn)行功能測(cè)試，有效防止基礎(chǔ)參數(shù)錯(cuò)誤導(dǎo)致功能測(cè)試失敗，同時(shí)方便尋找發(fā)生錯(cuò)誤的原因。 |
