一種檢測系統(tǒng)
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202110260802.6 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113237891A | 公開(公告)日 | 2021-08-10 |
| 申請公布號 | CN113237891A | 申請公布日 | 2021-08-10 |
| 分類號 | G01N21/95;G01N21/01;G01S17/894;G01S17/08;G01S7/481 | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 蘇勝飛;田井宇 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市華訊方舟光電技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 黎堅怡 |
| 地址 | 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道臣田社區(qū)臣田工業(yè)區(qū)37棟404 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請公開了一種檢測系統(tǒng),該檢測裝置用于對待檢測目標(biāo)進(jìn)行檢測,包括:光學(xué)器件,設(shè)置于待檢測目標(biāo)上,用于接收待檢測目標(biāo)反射的第一反射光與第二反射光;可見光成像裝置,通過光學(xué)器件接收第一反射光,以得到待檢測目標(biāo)的圖像;OCT成像裝置,通過光學(xué)器件向待檢測目標(biāo)輸出檢測光,并從光學(xué)器件接收第二反射光,以得到待檢測目標(biāo)的參數(shù)。本申請通過設(shè)置光學(xué)器件,將由待檢測目標(biāo)發(fā)射的第一反射光傳輸至可見光成像裝置,實現(xiàn)對待檢測目標(biāo)二維成像;同時將由待檢測目標(biāo)發(fā)射的第二反射光傳輸至OCT成像裝置,獲取待檢測目標(biāo)的深度信息,實現(xiàn)二維與三維的掃描檢測。 |





