一種太赫茲芯片的測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021668353.6 申請日 -
公開（公告）號 CN213715385U 公開（公告）日 2021-07-16
申請公布號 CN213715385U 申請公布日 2021-07-16
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 許奔;駱睿 申請（專利權(quán)）人 深圳市華訊方舟光電技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黎堅怡
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道臣田社區(qū)臣田工業(yè)區(qū)37棟404
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種太赫茲芯片的測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)包括：PCB板以及設(shè)置于PCB板上的測試電路與信號焊盤，太赫茲芯片綁定在PCB板上，且與測試電路連接；測試電路用于通過信號焊盤接收高頻信號，并向太赫茲芯片輸入測試信號，以對太赫茲芯片進行測試；其中，測試電路包括高頻信號管腳，信號焊盤通過信號金線與高頻信號管腳連接，信號金線的長度小于或等于0.5941mm，且信號金線的長度大于或等于0.4242mm。通過上述方式，本申請能夠提高測試效率，降低成本。