一種表層穿透雷達(dá)雙曲線目標(biāo)檢測方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811126006.8 申請日 -
公開（公告）號 CN109085548B 公開（公告）日 2021-03-26
申請公布號 CN109085548B 申請公布日 2021-03-26
分類號 G01S7/292(2006.01)I;G01S7/41(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉耿燁;席景春;雷文太;侯斐斐;楊治霖;谷慶元;李躍星 申請（專利權(quán)）人 湖南時變通訊科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張春水;唐京橋
地址 411100湖南省湘潭市高新區(qū)雙擁路9號創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)園A區(qū)3棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種表層穿透雷達(dá)雙曲線目標(biāo)檢測方法及裝置，通過預(yù)置點分割閾值，將表層穿透雷達(dá)接收信號的B?scan圖像轉(zhuǎn)換的二值圖像中孤立的像素點去除，清除二值圖像中的零散的像素點，再通過尋找二值圖像中的上開口和下開口區(qū)域，提取二值圖像中的目標(biāo)區(qū)域，最后將二值圖像中非聚類的像素點去除，并將兩個雙曲線之間的交叉區(qū)域的像素點去除，使得二值圖像中虛假目標(biāo)區(qū)域被去除，更精確和完整地提取表層穿透雷達(dá)目標(biāo)檢測中存在的雙曲線目標(biāo)，解決了現(xiàn)有的表層穿透雷達(dá)雙曲線特征的提取方法存在的雙曲線的提取精度不高，背景目標(biāo)的去除存在的不足的技術(shù)問題。??